您好!欢迎访问科睿设备有限公司网站!
咨询热线

13916855175

当前位置:首页 > 产品中心 > 科睿其他产品 > 材料表征测量系统
  • 深能级瞬态谱仪
    深能级瞬态谱仪

    深能级瞬态谱仪是半导体领域研究和检测半导体杂质、缺陷深能级、界面态等的重要技术手段!测试功能:电容模式、定电容模式、电流模式、(双关联模式)、光激发模式、FET分析、MOS分析、等温瞬态谱、Trap profiling、俘获截面测量、I/V,I/V(T) 、C/V, C/V(T) 、TSC/TSCAP 、光子诱导瞬态谱、DLOS。

    更新时间:2021-12-23型号:
  • 深能级瞬态谱仪1
    深能级瞬态谱仪1

    深能级瞬态谱仪1半导体领域研究和检测半导体杂质、缺陷深能级、界面态等的重要技术手段。根据半导体P-N 结、金-半接触结构肖特基结的瞬态电容(△C~t)技术和深能级瞬态谱(DLTS)的发射率窗技术测量出的深能级瞬态谱

    更新时间:2018-12-11型号:
  • 界面力学分析仪
    界面力学分析仪

    界面力学分析仪可以用来直接测量表面(诸如:无机物,金属,氧化物,聚合物,玻璃,生物分子界面等)间静态力和动态力,并在分子级领域内研究界面和薄膜现象。模块化的设计允许更多扩张功能和满足客户定制需求。

    更新时间:2018-12-11型号:
  • 俄歇电子能谱及低能电子衍射分析系统
    俄歇电子能谱及低能电子衍射分析系统

    俄歇电子能谱及低能电子衍射分析系统电子枪: 型号 :带可调焦距和束斑直径的双静电透镜 束流电压:0-3KV 束流电流:大50uA 束流直径:大800um 灯丝:钨灯丝 磁罩:带前置保护壳的Mu罩

    更新时间:2018-12-11型号:
  • 皮可安培计
    皮可安培计

    皮可安培计技术参数: 接口 输入: BNC; 模拟输出: Banana jacks 偏压选项: 无偏压/ 内置偏压 (± 90 V DC)/ 外置偏压 (BNC)

    更新时间:2019-02-26型号:
  • 皮可安培计(USB接口)
    皮可安培计(USB接口)

    皮可安培计(USB接口)技术参数: 接口 输入: BNC; 模拟输出 偏压选项: 无偏压/ 内置偏压 (± 90 V DC)/ 外置偏压 (BNC)

    更新时间:2019-02-26型号:
  • 光电子发射和低能量电子显微镜
    光电子发射和低能量电子显微镜

    产品规格(PEEM)〈br〉br成像模式: 热离子及光发射显微技术, 光谱成像及能量分析 分辨率Resolution: 〈15 nm(保证), Z高达到 8.2 nm (16/84% criteria) 观测视野: 2 - 150 µm 初始压力: 〈 2 x 10-10 Torr

    更新时间:2018-12-04型号:
  • 多探针扫描探针显微镜(Multi-probe SPM)
    多探针扫描探针显微镜(Multi-probe SPM)

    1)开放式构架,模块化设计——从单探针开始升级到独立双探针系统,继而升级到三探针、四探针系统〈br〉2)与光学显微镜*兼容,这是由*的探针及扫描器设计所决定的〈br〉3)可在线与微拉曼光谱、扫描电镜、聚焦离子束等技术联用〈br〉4)探针扫描与样品扫描可结合使用〈br〉5)除成像外,可结合使用多种类型探针,如近场光学探针、电学测量探针、热传导测量及纳米加热探针、化学传输探针等

    更新时间:2015-06-29型号:
共 8 条记录,当前 1 / 1 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 
扫一扫,关注微信
地址:上海市杨浦区松花江路251弄白玉兰环保广场3号902室 传真:021-55781190
©2022 科睿设备有限公司 版权所有 All Rights Reserved.  备案号:
扫一扫访问手机站扫一扫访问手机站
访问手机站