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  • 界面力学分析仪

    界面力学分析仪可以用来直接测量表面(诸如:无机物,金属,氧化物,聚合物,玻璃,生物分子界面等)间静态力和动态力,并在分子级领域内研究界面和薄膜现象。模块化的设计允许更多扩张功能和满足客户定制需求。

  • 俄歇电子能谱及低能电子衍射分析系统

    俄歇电子能谱及低能电子衍射分析系统电子枪: 型号:带可调焦距和束斑直径的双静电透镜 束流电压:0-3KV 束流电流:最大50uA 束流直径:最大800um 灯丝:钨灯丝 磁罩:带前置保护壳的Mu罩

  • 深能级瞬态谱仪1

    深能级瞬态谱仪1半导体领域研究和检测半导体杂质、缺陷深能级、界面态等的重要技术手段。根据半导体P-N结、金-半接触结构肖特基结的瞬态电容(△C~t)技术和深能级瞬态谱(DLTS)的发射率窗技术测量出的深能级瞬态谱

  • 皮可安培计

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  • 皮可安培计(USB接口)

    皮可安培计(USB接口)技术参数: 接口输入:BNC;模拟输出 偏压选项:无偏压/内置偏压(±90VDC)/外置偏压(BNC)

  • 深能级瞬态谱仪

    深能级瞬态谱仪是半导体领域研究和检测半导体杂质、缺陷深能级、界面态等的重要技术手段!测试功能:电容模式、定电容模式、电流模式、(双关联模式)、光激发模式、FET分析、MOS分析、等温瞬态谱、Trapprofiling、俘获截面测量、I/V,I/V(T)、C/V,C/V(T)、TSC/TSCAP、光子诱导瞬态谱、DLOS。

  • 光电子发射和低能量电子显微镜

    产品规格(PEEM)〈br〉br成像模式:热离子及光发射显微技术,光谱成像及能量分析 分辨率Resolution:〈15nm(保证),Z高达到8.2nm(16/84%criteria) 观测视野:2-150µm 初始压力:〈2x10-10Torr

  • 多探针扫描探针显微镜(Multi-probe SPM)

    1)开放式构架,模块化设计——从单探针开始升级到独立双探针系统,继而升级到三探针、四探针系统〈br〉2)与光学显微镜完全兼容,这是由独特的探针及扫描器设计所决定的〈br〉3)可在线与微拉曼光谱、扫描电镜、聚焦离子束等技术联用〈br〉4)探针扫描与样品扫描可结合使用〈br〉5)除成像外,可结合使用多种类型探针,如近场光学探针、电学测量探针、热传导测量及纳米加热探针、化学传输探针等

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