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  • 球磨测厚仪
    球磨测厚仪

    球磨测厚仪控制单元自带可编程的微处理器:速度,时间,球型,X,Y直径,自带LED光源,目镜小刻度为0.02mm,自动厚度校准,工作时间范围:1-30min,球型:10,15,20,25,30mm,球磨速度可控:200-1000tr/min。

    更新时间:2021-12-23型号:
  • 轮廓仪
    轮廓仪

    轮廓仪为了终应用来选择佳涂层或基底材料,客户有必要不仅仅检测摩擦系数,也需要检测磨损速率。磨损速率测量可以提供可靠的结果,这可以允许客户来决定手否样品能够达到应用需求和样品可以服务的时间。

    更新时间:2018-12-11型号:
  • 薄膜电阻及厚度测试仪
    薄膜电阻及厚度测试仪

    薄膜电阻及厚度测试仪可按照需求配置单个或多个针对不同样品的高敏感探头进行测量,并通过显示模块输出。检测终输出结果可显示为薄膜电阻(Ohms/sq),薄膜电导(Mhos/sq),厚度(单位:um)等。

    更新时间:2018-12-11型号:
  • 零件内表面粗糙度、缺陷、形貌测量仪
    零件内表面粗糙度、缺陷、形貌测量仪

    零件内表面粗糙度、缺陷、形貌测量仪加工过程的形状检测,应用于精密机械加工机轴、凸轮轴粗糙度测量,部件微孔隙内部结构表面检测。*可以做到精细结构内表面检测的系统,检测指标包括:内表面3维型貌,粗糙度,曲率半径等

    更新时间:2018-11-22型号:
  • 快速在线厚度测量仪
    快速在线厚度测量仪

    此系统是专业的薄膜在线厚度测试系统,广泛地应用于测试各种材料的薄膜,包括单层胶黏剂,液体/固体涂料涂层,多层复合塑料薄膜,半导体晶片,玻璃,陶瓷等。可以得到多层膜中每一层的厚度和总厚度。测试快速精确,不局限于样品材料是否透明,表面粗糙程度等。探头可以在线安装原位分析数据,也可以离线分析,方便操作。

    更新时间:2017-08-03型号:
  • 半导体晶片基底厚度测量
    半导体晶片基底厚度测量

    此系统专业用于晶片基底厚度,弯曲/平坦度,表面型貌,表面粗糙度检测。

    更新时间:2017-07-16型号:
  • 光干涉薄膜测厚仪
    光干涉薄膜测厚仪

    该产品是一款价格适中、功能强大的膜厚测量仪器,近几年,每年的销售量都超过200台。根据型号不同,测量范围可以从10nm到250um,它Z高可以同时测量4个膜层中的3个膜层厚度(其中一层为基底材料)。该产品可应用于在线膜厚测量、测氧化物、SiNx、感光保护膜和半导体膜。也可以用来测量镀在钢、铝、铜、陶瓷和塑料等上的粗糙膜层。

    更新时间:2018-12-03型号:
  • 三维非接触轮廓仪(3D Profiling)
    三维非接触轮廓仪(3D Profiling)

    微观形貌/表面粗糙度/薄膜厚度/空间度量衡/形态、织构的表面分析/机械加工质量控制/工业表面测试br可以升级到双扫描器双面轮廓仪,同时两面轮廓及总厚度测量。

    更新时间:2018-12-03型号:
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