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深能级瞬态谱仪具有安全便捷的优点
点击次数:111 发布时间:2020-05-21
  深能级瞬态谱仪是半导体领域研究和检测半导体杂质、缺陷深能级、界面态等的重要仪器。根据半导体P-N结、金-半接触结构肖特基结的瞬态电容(△C~t)技术和深能级瞬态谱(DLTS)的发射率窗技术测量出的深能级瞬态谱,是一种具有高检测灵敏度(检测灵敏度通常为半导体材料中掺杂济浓度的万分之一)的实验方法,能检测半导体中微量杂质、缺陷的深能级及界面态。
  通过对样品的温度扫描,可以给出表征半导体禁带范围内的杂质、缺陷深能级及界面态随温度(即能量)分布的DLTS谱,集成多种全自动的测量模式及全面的数据分析,可以确定杂质的类型、含量以及随深度的分布。深能级瞬态谱仪集成多种自动的测量模式及全面的数据分析,可以确定杂质的类型、含量以及随深度的分布,也可用于光伏太阳能电池领域中。
  该仪器测量界面态速度快,精度高,是生产和科研中可广泛应用的测试技术,自动连线检测,自动电容补偿功能,探测灵敏度高,瞬态电流测量,深能级瞬态谱分析,可调的混合比例,1:1到1:100。
  随着电脑技术的发展,使得在短时间内进行复杂计算成为可能,在纯指数发射过程模型的基础上,用各种数学模型分析测量到的瞬态过程,如傅里叶转换、拉普拉斯转换、多指数瞬态拟合、ITS(等温瞬态光谱)信号重叠法、温度扫描信号重叠法(重折叠)。
  深能级瞬态谱仪可更换SFM附件,应用于:化学淬灭,光学淬灭以及光学延时,冷冻淬灭,X-射线散射停流,中子色散停流,EPR停流,低温停流,自动滴定,停流电导,快速混合温度突变系统,微重力实验研究等。
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