英国KP开尔文探针扫描(KPFM)主要应用于化学领域、电化学领域和材料领域,开展表面无损分析、样品表面形貌三维图绘制、测量导体材料的表面功函数或半导体、绝缘表面的表面势等。
由于KPFM测量是AFM针尖与样品之间的接触电势差,因此需要首先说明AFM的工作原理。AFM的操作具有三种模式:分别为接触模式、轻敲模式和非接触模式。
在接触模式操作中,AFM的针尖接触样品表面,针尖和样品之间排斥力使与针尖相连的悬臂偏转,悬臂的偏转被测量并用作反馈信号。
在其他两个模式下,悬臂以接近共振的频率震动,由于针尖与样品之间的相互作用与它们之间的距离有关,从而导致轻敲模式中的振幅与非接触模式中的共振频率发生变化,通过这些变化来得到样品表面的形貌。
英国KP开尔文探针扫描的特色
1、高分辨率的功函数和表面势,的稳定性和数据重现性;
2、非零技术:ON信号探测系统在高信号水平下工作,与基于零信号原理的系统相比,不会收到噪声的影响拥有高灵敏度;
3、高度调节技术:我们的仪器在测量和扫描时可以控制针尖的高度。因为功函数受样品形貌的影响,针尖与样品表面距离的调节意味着数据的高重现性且不会漂移;
4、快速响应时间:测量速度在0.1-10秒间,远快于其他公司产品;
5、功能强的驱动器:选用Voice-coil驱动器,与通常的压电驱动器相比,VC驱动器频率要稳定得多、控制的针尖振幅大得多、支持平行多探针操作、支持不同直径探针操作。