开尔文探针扫描可以达到良好的成像效果

　　开尔文探针扫描提高了扫描透射电子显微镜的性能，更适合高级纳米技术研究，其与标准型号显微镜相比，分辨率提高了1.5倍，同时，探针电流提高了10倍。

　　探针扫描广泛地应用于金属材料(钢铁、冶金、有色、机械加工)和非金属材料(化学、化工、石油、地质矿物学、橡胶、纺织、水泥、玻璃纤维)等检验和研究。在材料科学研究、金属材料、陶瓷材料、半导体材料、化学材料等领域进行材料的微观形貌、组织、成分分析，各种材料的形貌组织观察，材料断口分 析和失效分析，材料实时微区成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面扫描和线扫描分布测量，晶体、晶粒的相鉴定，晶粒尺寸、形状分析，晶体、晶粒取向测量。

　　探针扫描具有完整高效的检测系统、高的分辨率以及简便的操作方式，物镜设计将静电场与磁场结合，可提升光学性能的同时将场发射对样品的损伤降低，此设计确保了成像质量，即使是较具挑战性的磁性材料也同样可以达到良好的成像效果。

　　开尔文探针扫描通过二次电子和背散射电子的检测也使得高效率的信号探测成为可能，探测器安装在光轴上，可以减少调整时间，可降低成像时间。电子束加速器技术确保了小的探针尺寸和高的信噪比，以达到低的加速电压。