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飞行时间二次离子质谱

简要描述:

飞行时间二次离子质谱
是一种非常灵敏的表面分析技术。可以广泛应用于物理,化学,微电子,生物,制药,空间分析等工业和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面,薄膜,界面以至于三维样品的元素,分子等结构信息。

更新时间:2018-12-03

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仪器简介:
飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)是一种非常灵敏的表面分析技术。可以广泛应用于物理,化学,微电子,生物,制药,空间分析等工业和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面,薄膜,界面以至于三维样品的元素,分子等结构信息。

技术参数:
. 并行探测所有离子,包括有机和无机分子碎片。
. 无限的质量探测范围(实际测量中大于1000m/z 原子量单位)。
. 完全透过率下实现高的质量分辨率。
. 极高的横向和纵向空间分辨率(横向小于100纳米,纵向小于1纳米)。
. 探测灵敏度可达ppm或ppb量级。
. 质量探测分辨率(M/ΔM) >1000
. 质量探测准确度 ≥20 milli 质量单位
. 反射性分析器
. 5 分钟样品腔真空度可从大气环境达到真空工作环境

主要特点:
.  超高的表面灵敏度(1x109 atoms/cm2)
·  操作简单(? day training)
· 1 分钟分析,样品处理流程 <7分钟
· 导体和绝缘体表面均可测试
· 可得到元素和分子信息
· 从元素中分离出普通有机物
· 正电和负电的 二次离子质谱
· 同位素分析
· 分析面积 ~0.5 mm
·  溅射预清洗表面
· 提供材料数据库

专业科研型



MS-1000 简易型,专业用于表面分析

  • MS-1000 台式型,用于固体表面分子结构定性分析

  • MS-1000飞行时间二次离子质谱,属于静态模式的SIMS,对于样品表面的分子非常敏感

  • MS-1000 相比其它SIMS,比较便宜,性能价格比高,方便使用,15分钟可以得到样品表面信息。

  • MS-1000专业设计用于质量控制和错误诊断,生产时的指标监测,以及其它表面分析手段做不到的领域.

  • 质谱分析仪和离子枪设计成一体,使得MS-1000 成为最小的静态二次离子质谱!

MS-1000应用领域包括:

  • 分析涂层中的胶黏剂以及复合材料

  • 半导体制备中的污染,药物生产的准备和环境监测

  • 生物体兼容性测试

  • 快速检测等离子体对样品表面的处理和改性

  • 涂料中预处理的有机粘合剂分析

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