飞行时间二次离子质谱2-材料表征 飞行时间二次离子质谱是一种灵敏的表面分析技术，可以广泛应用于物理，化学，微电子，生物，制药，空间分析等工业和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面，薄膜，界面以至于三维样品的元素，分子等结构信息。

深能级瞬态谱仪2-半导体表征 深能级瞬态谱仪是半导体领域研究和检测半导体杂质、缺陷深能级、界面态等的重要技术手段！测试功能：电容模式、定电容模式、电流模式、（双关联模式）、光激发模式、FET分析、MOS分析、等温瞬态谱、Trap profiling、俘获截面测量、I/V,I/V（T） 、C/V, C/V（T） 、TSC/TSCAP 、光子诱导瞬态谱、DLOS。

深能级瞬态谱仪-半导体表征 半导体领域研究和检测半导体杂质、缺陷深能级、界面态等的重要技术手段。根据半导体P-N 结、金－半接触结构肖特基结的瞬态电容（△C～t）技术和深能级瞬态谱（DLTS）的发射率窗技术测量出的深能级瞬态谱

英国KP开尔文探针扫描-半导体表征 英国KP开尔文探针扫描是一种非接触无损震荡电容装置，用于测量导体材料的功函数（Work Function）或半导体、绝缘表面的表面势（Surface Potential）。材料表面的功函数通常由Z上层的1-3层原子或分子决定，所以开尔文探针是一种Z灵敏的表面分析技术。

开尔文探针扫描系统-半导体表征 开尔文探针扫描系统是一种非接触无损震荡电容装置，用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential)。材料表面的功函数通常由Z上层的1-3层原子或分子决定，所以开尔文探针是一种Z灵敏的表面分析技术。

飞行时间二次离子质谱-材料表征 飞行时间二次离子质谱是一种非常灵敏的表面分析技术。可以广泛应用于物理，化学，微电子，生物，制药，空间分析等工业和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面，薄膜，界面以至于三维样品的元素，分子等结构信息。

俄歇电子能谱及低能电子衍射分析系统，又称俄歇电子能谱AES及低能电子衍射LEED样品表面深度分析系统。

高通量光谱成像系统：高灵敏度 sCMOS 成像传感器能够对低灵敏度样品进行高速图像采集，高分辨率光谱能够以亚 1 nm 的分辨率采集大约 500 nm 波段。