Q-One纳米级离子注入系统是一种具有纳米级精度的确定性单离子注入的最新工具。这是一种全新的设计，功能强大的FIB，能够以惊人的精度和前所的未有的速度定位单个离子。

红外光晶圆键合检测装置，为了实现晶圆的可视化，需要一台带有USB端口和Windows 2000或更高版本的个人电脑。

使用芯片到芯片键合机，可以手动对齐两个芯片。然后可以使芯片接触，以进行阳极键合或各种胶合过程。单芯片对准级包括三个线性轴和三个旋转轴，为大多数对准应用提供了足够的自由度。

红外晶圆检测显微镜，硅片是集成电路（IC）和微机电系统（MEMS）制造中使用的重要部件。在红外（IR）范围内看穿这种半导体材料的能力有利于制造过程的质量控制。

单离子注入聚焦离子束测试设备 量子和纳米级材料工程的先进平台 Q-One™是先进的聚焦离子束平台，用于先进的器件制造和纳米级材料工程。Q-One具有确定性单离子注入功能，是第一台专门为满足量子研究的苛刻要求而设计的仪器。

飞行时间二次离子质谱测试设备，先进的动态TOF-SIMS系统，它使用直流主束的飞行时间分析仪，创建了成像质谱的新范式。直流一次离子束的使用允许快速成像和连续数据采集（即没有单独的蚀刻周期），同时提供高空间和质量分辨率。 特点： 离子束带来高分子量分析和高空间分辨率 四种离子束可选择 用气体团簇离子束SIMS，可以分析高达3000Da的分子量 无“仅蚀刻”循环的深度剖面。 快速、连续采集

球磨测厚仪-测试设备 控制单元自带可编程的微处理器:速度，时间，球型，X，Y直径，自带LED光源，目镜小刻度为0.02mm，自动厚度校准，工作时间范围：1-30min，球型：10，15，20，25，30mm，球磨速度可控：200-1000tr/min。

涂层附着力检测仪-测试设备 1.快速简易：压痕并观察压痕效果 2.高性价比：宝石探针消耗低（划痕仪的10倍使用寿命）