您好!欢迎访问科睿设备有限公司网站!
咨询热线

13916855175

当前位置:首页 > 产品中心 > 材料测试设备 >

产品分类

Product Category

相关文章

Related Articles
  • 薄膜电阻及厚度测试仪
    薄膜电阻及厚度测试仪

    薄膜电阻及厚度测试仪可按照需求配置单个或多个针对不同样品的高敏感探头进行测量,并通过显示模块输出。检测终输出结果可显示为薄膜电阻(Ohms/sq),薄膜电导(Mhos/sq),厚度(单位:um)等。

    更新时间:2024-02-27型号:
  • Real RTP 100真空快速退火炉
    Real RTP 100真空快速退火炉

    一般都是以红外卤素灯为发热元件,升温速度极快,采用热电偶测温并采用*的PID控制,具有很高的控温精度,快速退火炉具有真空装置,可在多种气氛下工作。大大提高了其使用范围。

    更新时间:2024-02-27型号:Real RTP 100
  • 真空快速退火炉RTP
    真空快速退火炉RTP

    真空快速退火炉RTPRTA(快速热退火); RTO(快速热氧化);注入退火;扩散;化合物半导体退火;渗氮;渗硅; 结晶化与致密化;

    更新时间:2024-02-27型号:
  • 零件内表面粗糙度、缺陷、形貌测量仪
    零件内表面粗糙度、缺陷、形貌测量仪

    零件内表面粗糙度、缺陷、形貌测量仪加工过程的形状检测,应用于精密机械加工机轴、凸轮轴粗糙度测量,部件微孔隙内部结构表面检测。*可以做到精细结构内表面检测的系统,检测指标包括:内表面3维型貌,粗糙度,曲率半径等

    更新时间:2024-02-27型号:
  • 快速在线厚度测量仪
    快速在线厚度测量仪

    此系统是专业的薄膜在线厚度测试系统,广泛地应用于测试各种材料的薄膜,包括单层胶黏剂,液体/固体涂料涂层,多层复合塑料薄膜,半导体晶片,玻璃,陶瓷等。可以得到多层膜中每一层的厚度和总厚度。测试快速精确,不局限于样品材料是否透明,表面粗糙程度等。探头可以在线安装原位分析数据,也可以离线分析,方便操作。

    更新时间:2024-02-27型号:
  • 半导体晶片基底厚度测量
    半导体晶片基底厚度测量

    此系统专业用于晶片基底厚度,弯曲/平坦度,表面型貌,表面粗糙度检测。

    更新时间:2024-02-27型号:
  • 光干涉薄膜测厚仪
    光干涉薄膜测厚仪

    该产品是一款价格适中、功能强大的膜厚测量仪器,近几年,每年的销售量都超过200台。根据型号不同,测量范围可以从10nm到250um,它Z高可以同时测量4个膜层中的3个膜层厚度(其中一层为基底材料)。该产品可应用于在线膜厚测量、测氧化物、SiNx、感光保护膜和半导体膜。也可以用来测量镀在钢、铝、铜、陶瓷和塑料等上的粗糙膜层。

    更新时间:2024-02-26型号:
  • 探针台(Analytical Probe Station)
    探针台(Analytical Probe Station)

    我司代理的探针台型号很多,有晶圆探针台、LCD/OLED探针台、RF探针台、LD/PD探针台、高温探针台、低温探针台、表面电阻探针台、霍尔效应探针台、PCB检测台、Mask检测台、LCD/OLED检测台、激光修补台等等。您有任何领域应用或已有探针台的升级要求,请与我们,我们会给您专业快速的解答。

    更新时间:2024-02-26型号:
共 20 条记录,当前 2 / 3 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 
扫一扫,关注微信
地址:上海市杨浦区松花江路251弄白玉兰环保广场3号902室 传真:021-55781190
©2024 科睿设备有限公司 版权所有 All Rights Reserved.  备案号: