控制器是专门为四点探针测量而设计的一种专用电子仪器。它具有精度高、范围广和许多简化四点探测测量的特点。

气氛可控开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置用于导电材料的功函或半导体或绝缘体材料表面的表面电势，表面功函由材料表面最顶部的1-3层原子或分子决定，因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术，KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界最高分辨率的测试系统。

单点开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置,用于测试导电材料的功函或半导体材料表面的表面电势，表面功函。

薄膜电阻及厚度测试仪采用涡流检测技术，可按照需求配置单个或多个针对不同样品的高敏感探头进行测量，并通过显示模块输出。检测最终输出结果可显示为薄膜电阻（Ohms/sq），薄膜电导(Mhos/sq），厚度(单位：um）等。

表面光电压谱系统为深入研究光敏感材料（例如有机半导体，太阳能电池或者光敏染料）提供一种一体化解决方案。

超高真空开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置用于导电材料的功函或半导体或绝缘体材料表面的表面电势，表面功函由材料表面最顶部的1-3层原子或分子决定，因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术，KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界最高分辨率的测试系统。

台式拉曼光谱分析仪，集成了所需的关键元件，使所有技能水平的研究人员都能以易于操作和较好的灵敏度利用拉曼的力量。

多功能拉曼系统，内置标准灯和自动校准算法可确保保留初始测量设置。 测量结果的高再现性由双头旋转编码器保证，误差小于0.003度，易于更换的光栅，内置硅样品和引导光束。