高性能霍尔效应测量系统，采用纳米技术方法开发的材料用于芯片技术的发展、太阳能电池的开发、材料科学的发展、空间技术、国防工业的发展。

紧凑型霍尔效应测量系统具有集成的硬件和软件系统，旨在测量和分析样品的电子特性，是霍尔效应测量系统的便携版本，在全球范围内使用。

NMI-VSM 振动样品磁强计结合了高灵敏度 （5e-7 emu）、出色的可重复性和简单操作，具有符合人体工程学的设计和软件，便于研究人员使用。

大气环境光电子发射光谱，使用可调波长的深紫外光源，能量输出 3.4 - 7.0 eV, 可以得到以下数据。

扫描开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置,用于测试导电材料的功函或半导体材料表面的表面电势，表面功函。由材料表面最顶部的1-3层原子或分子决定，因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术。

深能级瞬态谱仪应用领域 :检测Si、ZnO、GaN等半导体材料中微量杂质、缺陷的深能级及界面态。

半自动划片机/切片机（6英寸）-半导体材料 适用于 6 英寸晶圆– 6 英寸硅晶圆 – 紧凑尺寸的占地面积（宽 x 深 = 590 x 880） – 多处安装划片 可划片的样品： 硅晶圆， PCB， QFN， PBGA， 陶瓷， 石英玻璃， LED，移动式蓝色玻璃滤光片、碳化硅等

半自动划片机（8英寸，12英寸）-半导体材料 – 最大 16 英寸 – 重复精度（Y 轴） ： 0.001 – 可选 3 英寸刀片、BBD（刀片断裂检测仪）、NCS（非接触式传感器） – 真空卡盘：6~12英寸