KP Technology扫描开尔文探针非破坏性振动电容装置,用于测试导电材料的功函或半导体材料表面的表面电势,表面功函。由材料表面顶部的1-3层原子或分子决定,因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界高分辨率的测试系统。
质子转移反应飞行时间质谱仪同时还可应用真正的涡度相关法(eddy-covariance)技术,扩展到对构成和诱导生物挥发性有机化合物(VOCs)进行生态系统通量测试。
皮可安培计(USB接口)技术参数: 接口 输入: BNC; 模拟输出 偏压选项: 无偏压/ 内置偏压 (± 90 V DC)/ 外置偏压 (BNC)
产品规格(PEEM)〈br〉br成像模式: 热离子及光发射显微技术, 光谱成像及能量分析 分辨率Resolution: 〈15 nm(保证), Z高达到 8.2 nm (16/84% criteria) 观测视野: 2 - 150 µm 初始压力: 〈 2 x 10-10 Torr
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